SEM монокристаллическая Кремниевая Вафля односторонняя полировка экспериментальные исследования Высокая чистота один кристалл Кремниевая Вафля размер может

231 руб.

Описание

Монокристаллическая Кремниевая пластина (односторонняя полировка)

Особенности:Монокристаллическая подложка из кремния высокой чистоты si, тип N/P опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально

Роста режим:Straight без застежки

С украшением в виде кристаллов направленности:[111]/[100]

Это действительно плоский экран:<1 микрон (измеренная общая warpage)

Область применения:1. PVD/CVD покрытие как подложка

2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ тестовая подложка, AFM (атомный силовой микроскоп)

3. Синхротронное излучение тест-носитель образца

4. Молекулярный пучок эпитаксиальный рост подложки

5. Полупроводниковый процесс литографии и т. Д.

Классификация:6,25 × 6,25 × 0,5; 10 × 5 × 0,5; 10 × 10 × 0,5; 12,7 × 12,7 × 0,5; 15 × 15 × 0,5; 20 × 20 × 0,5; 25,4 × 25,4 × 0,5.

Примечание:Другие размеры могут быть изменены.

SEM монокристаллическая Кремниевая Вафля односторонняя полировка экспериментальные исследования Высокая чистота один кристалл Кремниевая Вафля размер может