Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз
  • Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз
  • Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз
  • Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз
  • Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз
  • Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз
  • Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз

Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз

172 323 руб.

Описание

В основном относится к использованию оптической металлографии (металлографический микроскоп и стереомикроскоп) на микроконструкции, макроконструкции и микроструктуры трещин материаловедения и характеристики ветки, как изображение, так и качественная и количественная характеристика микроструктуры содержит материал, также включает в себя образец подготовки, метод подготовки и выборки, необходимые. Он в основном отражает состав и характеристики материалов и микроструктуры, зерна (также возможно я Цзин), неметаллических включений и некоторых кристаллических дефектов (таких как дислокации) количество, Морфология, размер, распределение, ориентирование, пространственное расположение и т. д.

Характеристика:
1. Использование лучшей в мире бесконечной двойной коррекции цвета и контрастности (ICCS) оптической системы, чтобы обеспечить пользователей самым острым изображением.
2. 5 верхних частей и 3 нижних частей и двухколоночный комбинации могут быть объединены свободно в соответствии с вашими требованиями к испытанию материалов и Экономичные затраты, могут быть выполнены на прозрачном материале, непрозрачных материалах и анализа сплава материала, и мощное пространство для обновления, чтобы обеспечить ваши требования к тестированию в будущем.
3. самый большой стиль отрасли может достигать 545 миллиметров, чтобы обеспечить вам необыкновенное рабочее пространство.
4., близкие к гибкости пользователя, обновление компоненты оборудования без профессионального персонала, пользователи могут работать самостоятельно.
5. поляризованные световые наблюдения в основном используются для определения биогнеупорных характеристик
Материалы в геологическом, механическом, металлургическом, электронном и других отделах имеют
Широкий спектр применения. Устройство оснащено поляризационным устройством: поляризатор и осмотр
Поляризационный фильтр
WF10X (окуляр; большой диаметр 22 мм)
Бесконечное плоское поле ахроматическая линза для объектива (совпадающий полевой объектив)
PL L5X/0,12 рабочее расстояние: 26,1 мм
PL L10X/0,25 рабочее расстояние: 20,2 мм
PL L40X/0,60 рабочее расстояние: 3,98 мм
PL L60X/0,70 рабочее расстояние: 2,08 мм
Окулярная трубка; 30 или наклон, интерпиллярный диапазон регулировки расстояния 53 ~ 75 мм.
Механизм фокусировки, грубая Коаксиальная фокусировка микродвижения, блокировка и ограничение устройства, значение микросетки: 2 м.
Конвертер; пять отверстий (позиционирование внутреннего шара)
Загрузочный стол; двухслойная Механическая подвижная платформа; Размер формы: 210 мм X 140 мм; подвижный диапазон: 63 мм X 50 мм.
Висячая лампа система;
6V30W галогенная лампа, регулируемая яркость.
Настройте желтый, синий, зеленый фильтр и листы матового стекла.
Встроенный в поле световой бар, световая панель диафрагмы, устройство преобразования цветного фильтра, анализатор типа push и pull и поляризатор.
Коробка передач система освещения;
Конденсатор Abbe NA.1.25 может быть поднят вверх и вниз.
Встроенный в поле световой бар в световое зеркало для сбора.
Настройте синие фильтры и листы матового стекла.
Металлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 разМеталлический микроскоп из углеродистой стали для анализа полупроводниковых тестовых микросхем с увеличением в 50-600 раз

Характеристики

Бренд
FGHGF
Номер модели
50-600X times
Особенности
High Definition / PORTABLE / Портативный
Материал
Металл
Коэффициент увеличения
500X-1500X
Выдвижной тубус
Монокуляр
Основы
Металлургический микроскоп
Metal microscope
mineral
Carbon steel analysis
LCD detection
Semiconductor test
Microelectronics
Chip detection
A
Zoom in 50-600 times
B
Failure analysis
C
Carbon structure
D
metallurgy
E